資料詳細

  • 1 件中、 1 件目

二次イオン質量分析法 第2版

丸善出版 2025.5 (表面分析技術選書)

所蔵

所蔵は 1 件です。現在の予約件数は 0 件です。

所蔵館 所蔵場所 請求記号 資料コード 資料区分 持禁区分 状態
オーテピア高知図書館 3Fビジネス /428.4/ﾆｼ/ 1112706971 一般   利用可

ページの先頭へ

館別所蔵

館名 所蔵数 貸出中数 貸出可能数
オーテピア高知図書館 1 0 1

ページの先頭へ

資料詳細

タイトル 二次イオン質量分析法
叢書名 表面分析技術選書
出版者 丸善出版
出版年 2025.5
ページ数 9,226p
大きさ 21cm
一般件名 表面(工学) , イオンビーム , 質量分析
NDC分類(9版) 428.4
内容紹介 多くの研究分野で活用されている二次イオン質量分析法(SIMS)。その原理と基礎から、SIMSによる測定の実際、目的別の応用例までを解説する。SIMSの全貌を見通せるテキスト。
ISBN 4-621-31135-6

ページの先頭へ