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ソフトウェアアーキテクチャメトリクス アーキテクチャ品質を改善する10のアドバイス

Christian Ciceri／著 Dave Farley／著

オライリー・ジャパン 2024.1

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所蔵館 所蔵場所 請求記号 資料コード 資料区分 持禁区分 状態
オーテピア高知図書館 3Fビジネス－IT 4Y/007.63/ｿﾌ/ 1112199524 一般   利用可

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館名 所蔵数 貸出中数 貸出可能数
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タイトル ソフトウェアアーキテクチャメトリクス
副書名 アーキテクチャ品質を改善する10のアドバイス
著者 Christian Ciceri ／著, Dave Farley ／著, Neal Ford ／著, Andrew Harmel‐Law ／著, Michael Keeling ／著, Carola Lilienthal ／著, João Rosa ／著, Alexander von Zitzewitz ／著, Rene Weiss ／著, Eoin Woods ／著, 島田 浩二 ／訳  
出版者 オライリー・ジャパン
出版年 2024.1
ページ数 18,252p
大きさ 21cm
一般件名 ソフトウェア工学
NDC分類(9版) 007.63
内容紹介 経験豊かな10人のソフトウェアアーキテクトが、知っておくべきメトリクスについて、貴重な経験やケーススタディと共に紹介。追跡すべき適切なメトリクスの選択、適切なダッシュボードの構築などを解説する。
ISBN 4-8144-0060-7

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