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ソフトウェア不具合改善手法ODC分析 工程の「質」を可視化する
杉崎 眞弘/著 佐々木 方規/著
日科技連出版社 2020.8
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オーテピア高知図書館
3Fビジネス-IT
4Y/007.63/スキ/
1111021141
一般
貸出中
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館名
所蔵数
貸出中数
貸出可能数
オーテピア高知図書館
1
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資料詳細
タイトル
ソフトウェア不具合改善手法ODC分析
副書名
工程の「質」を可視化する
著者
杉崎 眞弘
/著,
佐々木 方規
/著,
日科技連ODC分析研究会
/編
出版者
日科技連出版社
出版年
2020.8
ページ数
9,204p
大きさ
21cm
一般件名
ソフトウェア工学
,
品質管理
NDC分類(9版)
007.63
内容紹介
初学者でもODC分析についての基礎的な実践知識が得られるテキスト。米国IBM社でODC分析の手法化に携わった著者が、国内の技術者向けに、ODC分析のコンセプト、分析・評価理論と手法、実施事例を解説する。
ISBN
4-8171-9713-9
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