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半導体デバイスの不良・故障解析技術

二川 清／編著 上田 修／著

日科技連出版社 2019.12 (信頼性技術叢書)

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所蔵館 所蔵場所 請求記号 資料コード 資料区分 持禁区分 状態
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館名 所蔵数 貸出中数 貸出可能数
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タイトル 半導体デバイスの不良・故障解析技術
叢書名 信頼性技術叢書
著者 二川 清 ／編著, 上田 修 ／著, 山本 秀和 ／著  
出版者 日科技連出版社
出版年 2019.12
ページ数 8,218p
大きさ 21cm
一般件名 半導体 , 信頼性(工学)
NDC分類(9版) 549.8
内容紹介 半導体デバイスの不良と故障について、基礎から最新情報まで幅広いレベルの内容を解説。それぞれの分野の側面を気軽に知ることができるコラム、「初級信頼性技術者」資格認定試験に出るような5択の演習問題も掲載。
ISBN 4-8171-9685-9

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