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半導体デバイスの不良・故障解析技術
二川 清/編著 上田 修/著
日科技連出版社 2019.12 (信頼性技術叢書)
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オーテピア高知図書館
3Fビジネス
/549.8/ニカ/
1109688349
一般
利用可
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館別所蔵
館名
所蔵数
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資料詳細
タイトル
半導体デバイスの不良・故障解析技術
叢書名
信頼性技術叢書
著者
二川 清
/編著,
上田 修
/著,
山本 秀和
/著
出版者
日科技連出版社
出版年
2019.12
ページ数
8,218p
大きさ
21cm
一般件名
半導体
,
信頼性(工学)
NDC分類(9版)
549.8
内容紹介
半導体デバイスの不良と故障について、基礎から最新情報まで幅広いレベルの内容を解説。それぞれの分野の側面を気軽に知ることができるコラム、「初級信頼性技術者」資格認定試験に出るような5択の演習問題も掲載。
ISBN
4-8171-9685-9
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