資料詳細

  • 1 件中、 1 件目

iOSアプリ開発自動テストの教科書 XCTestによる単体テスト・UIテストから、CI/CD、デバッグ技術まで

平田 敏之／著 細沼 祐介／著

技術評論社 2019.7

所蔵

所蔵は 1 件です。現在の予約件数は 0 件です。

所蔵館 所蔵場所 請求記号 資料コード 資料区分 持禁区分 状態
オーテピア高知図書館 3Fビジネス－IT 4Y/007.63/ﾋﾗ/ 1109531051 一般   利用可

ページの先頭へ

館別所蔵

館名 所蔵数 貸出中数 貸出可能数
オーテピア高知図書館 1 0 1

ページの先頭へ

資料詳細

タイトル iOSアプリ開発自動テストの教科書
副書名 XCTestによる単体テスト・UIテストから、CI/CD、デバッグ技術まで
著者 平田 敏之 ／著, 細沼 祐介 ／著  
出版者 技術評論社
出版年 2019.7
ページ数 454p
大きさ 21cm
一般件名 モバイルアプリ , ソフトウェア工学
NDC分類(9版) 694.6
内容紹介 iOSアプリ開発における自動テストに焦点をあてた一冊。自動テストについての考え方から、XCTestを利用した単体テストやUIテストの作成方法、XcodeやLLDBなどを活用したデバッグ手法までを解説する。
ISBN 4-297-10629-4

ページの先頭へ