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光・電子・イオンビームによる表面ナノ構造解析

城戸 義明／著

三恵社 2017.8

所蔵

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所蔵館 所蔵場所 請求記号 資料コード 資料区分 持禁区分 状態
オーテピア高知図書館 3Fビジネス /428.4/ｷﾄ/ 1109051811 一般   利用可

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館別所蔵

館名 所蔵数 貸出中数 貸出可能数
オーテピア高知図書館 1 0 1

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タイトル 光・電子・イオンビームによる表面ナノ構造解析
著者 城戸 義明 ／著  
出版者 三恵社
出版年 2017.8
ページ数 541p
大きさ 27cm
一般件名 表面(工学) , 電子分光分析 , 電子回折 , イオンビーム
NDC分類(9版) 428.4
内容紹介 表面・界面に関する基礎知識を説明するとともに、代表的な分析手法であり、互いに相補的な関係にあるイオン散乱分析・電子線回折・光電子分光による電子状態分析について、それぞれの要点・特徴を分かり易く解説する。
ISBN 4-86487-734-3

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内容一覧

タイトル 著者名 ページ
第1編 清浄表面
第2編 表面の構造
第3編 表面の動的過程
第4編 表面の電子状態
第5編 分析手法-Ⅰ:放射光
第6編 分析手法-Ⅱ:電子線
第7編 分析手法-Ⅲ:イオン散乱-基礎編
第8編 分析手法-Ⅲ:イオン散乱-応用編
第9編 表面・界面の複合分析
第10編 データ処理Data analysis

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