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はじめてのデバイス評価技術 第２版

二川 清/著

森北出版 2012.9

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館名 所蔵数 貸出中数 貸出可能数
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タイトル はじめてのデバイス評価技術
著者 二川 清 /著  
出版者 森北出版
出版年 2012.9
ページ数 179p
大きさ 22cm
一般件名 半導体
NDC分類(9版) 549.8
内容紹介 半導体デバイスのなかでも代表的なシリコン集積回路（ＩＣ）を取り上げ、機能・信頼性・故障の評価についてわかりやすくまとめる。具体例・応用事例も紹介。
ISBN 4-627-77442-1
定価 ¥2400

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